检测样品：半导体集成电路(电压型)运算放大器

检测项目

输入失调电压VIo，输入偏置电流lIB，输入失调电流llO，正电源电流+，负电源电流-，静态功耗PD，开环电压增益AVO，共模抑制比KCMR，转换速率SR，电源电压抑制比KSVR，输出最高电平VOP+，输出最低电平VOP-，输出短路电流IOS，增益带宽乘积GBW，键合强度，剪切强度，耐溶剂性，可焊性，键合强度(破坏性键合拉力试验)，老炼试验，稳态寿命，引线牢固性，温度循环，密封，机械冲击，扫频振动，恒定加速度，盐雾(盐汽)，静电放电敏感度的分级，拉子碰撞噪声检测试验，高温贮存

检测周期：7-15个工作日，试验可加急

检测标准

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB9147-2017 5.1

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-20175.3

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB9147-20175.5

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-20175.7

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB9147-20175.7

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB9147-20175.7

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-20175.8

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB9147-20175.9

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB9147-20175.10

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-20175.12

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB9147-2017 5.13

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-20175.13

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-20175.15

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB9147-20175.25

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 1101-1103

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-20211101

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-20212015.2

微电子器件试验方法和程序 GJB548C-20212003.2

微电子器件试验方法和程序 GJB548C-20212011.2

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 1015.1

检测流程

1、寄样

2、初检样品

3、报价

4、双方确定，签订保密协议，开始实验。

5、结束实验

6、邮寄检测报告

了解中析

实验室仪器

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